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| SN74ABT8245DW资料 | |
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SN74ABT8245DW PDF Download |
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File Size : 116 KB
Manufacturer:TI Description:Four dedicated test pins control the operation of the test circuitry: test data input (TDI), test data output (TDO), test mode select (TMS), and test clock (TCK). Additionally, the test circuitry performs other testing functions such as parallel-signature analysis (PSA) on data inputs and pseudo-random pattern generation (PRPG) from data outputs. All testing and scan operations are synchronized to the TAP interface. |
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| 相关型号 | |
| ◆ PJ-037A-SMT | |
| ◆ FZT591ATA | |
| ◆ 2-520081-2 | |
| ◆ 2-520103-2 | |
| ◆ G3VM21GR | |
| ◆ B40B-XADSS-N(LF)(SN) | |
| ◆ S301T-RO | |
| ◆ 172339-1 | |
| ◆ V7-5F17D8-336 | |
| ◆ 44441-2002 | |
| 1PCS | 100PCS | 1K | 10K | ||
| 价 格 | |||||
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型 号：SN74ABT8245DW 厂 家：TI 封 装： 批 号：07+ 数 量：18669 说 明：原装正品 |
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运 费：所有运费均有我司承担 所在地：深圳 新旧程度： |
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| 联系人：申小姐 |
| 电 话：0755-83330991,0755-83047629 |
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1. 所有我司提供的货物，均为原厂原装正品！ 2. 我们的报价是不含税价格。含税需要增加相应的税点。
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